質構儀探頭-食品探頭 TA/SFR

質構儀探頭-食品探頭 TA/SFR
可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質小麥的發芽損傷導致面條質地損傷，或者不同的烘干程序使面條產生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質地，包裝運輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強度和抗彎柔性信息。

質構儀探頭-食品探頭 TA/SFR
可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質小麥的發芽損傷導致面條質地損傷，或者不同的烘干程序使面條產生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質地，包裝運輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強度和抗彎柔性信息。

質構儀探頭-食品探頭 TA/SFR
可測量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測試，由于硬質小麥的發芽損傷導致面條質地損傷，或者不同的烘干程序使面條產生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質地，包裝運輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規的斷條率測試，還可以幫助用戶了解折斷強度和抗彎柔性信息。