質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT 該裝置由環(huán)繞錐體的18個(gè)鋸齒狀缺口組成，樣品可自動(dòng)滾入缺口進(jìn)入測(cè)試位置。穿透實(shí)驗(yàn)可穿透整個(gè)豆粒，并對(duì)刺破強(qiáng)度和穿刺力進(jìn)行測(cè)量還可以用于測(cè)量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強(qiáng)度等參數(shù)。

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質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/CFS（脆性斷裂支撐臺(tái)） 通過探頭下壓可用于測(cè)試米制小食品的酥脆性

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質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/SFR 可測(cè)量折斷壓力和彎曲特性，主要用于干面條的測(cè)試，由于硬質(zhì)小麥的發(fā)芽損傷導(dǎo)致面條質(zhì)地?fù)p傷，或者不同的烘干程序使面條產(chǎn)生了不同的特性，通過該方法可以反映面條的質(zhì)地，包裝運(yùn)輸過程中的抗折斷性。尤其是不僅僅完成常規(guī)的斷條率測(cè)試，還可以幫助用戶了解折斷強(qiáng)度和抗彎柔性信息。

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質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/DSC 主要用于面團(tuán)粘性的測(cè)試，也可以用于米糕等具有粘彈性樣品的膠粘性（stickiness）測(cè)試。

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質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/DP 用于面及面制品，可測(cè)量面團(tuán)的流變性，面團(tuán)的硬度和發(fā)酵率。樣品放入測(cè)試室中.用通孔活塞的長(zhǎng)釘把面團(tuán)中隨機(jī)分布的氣泡驅(qū)除.再用平頭活塞壓制出光滑的表面，后用6mm的柱型探頭測(cè)試硬度。

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